9月27日，瞻芯電子發(fā)布消息稱，自2020年正式發(fā)布第一代碳化硅(SiC) MOSFET產(chǎn)品以來(lái)，瞻芯電子累計(jì)交付SiC MOSFET產(chǎn)品1000萬(wàn)顆以上，其中包含近400萬(wàn)顆車(chē)規(guī)級(jí)產(chǎn)品應(yīng)用在新能源汽車(chē)市場(chǎng)。

圖片來(lái)源：瞻芯電子

SiC MOSFET作為功率變換系統(tǒng)的核心元器件，其性能表現(xiàn)影響應(yīng)用系統(tǒng)的效率表現(xiàn)。而產(chǎn)品的長(zhǎng)期可靠性則更為關(guān)鍵，它決定了應(yīng)用系統(tǒng)的安全和穩(wěn)定。

瞻芯電子CTO葉忠博士表示，對(duì)SiC MOSFET來(lái)說(shuō)，產(chǎn)品可靠性驗(yàn)證過(guò)程是一場(chǎng)馬拉松長(zhǎng)跑。產(chǎn)品通過(guò)可靠性測(cè)試認(rèn)證只是拿到參賽入場(chǎng)券，而長(zhǎng)期實(shí)際運(yùn)行表現(xiàn)才能驗(yàn)證真正的產(chǎn)品可靠性。

作為一家聚焦于碳化硅半導(dǎo)體的芯片公司，瞻芯電子主要致力于開(kāi)發(fā)碳化硅(SiC)功率器件、驅(qū)動(dòng)和控制芯片、碳化硅(SiC)功率模塊產(chǎn)品，并圍繞碳化硅(SiC)功率半導(dǎo)體應(yīng)用，為客戶提供一站式(Turn-key)芯片解決方案。

據(jù)悉，為確保產(chǎn)品的高可靠性，瞻芯電子針對(duì)SiC MOSFET的失效機(jī)理做了長(zhǎng)期的研究積累，并自主開(kāi)發(fā)了一套錘擊老化測(cè)試系統(tǒng) (Hammer burn-in System)，針對(duì)不同的產(chǎn)品失效機(jī)理，開(kāi)展多種輔助測(cè)試篩查、加嚴(yán)測(cè)試和壽命測(cè)試。

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