目前硬件在環(huán)技術,已經得到非常廣泛的應用。在實現硬件在環(huán)信號級的仿真之后,需要進行功率級或機械級的臺架測試。功率級或機械級的臺架測試能直觀的展示開發(fā)與測試成果,有利于進一步與實際項目對接,因此功率級或小型的機械級臺架在高校或技術中心的研發(fā)也越來越成為一個開發(fā)測試階段。
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